Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X' (1995)
- Authors:
- Autor USP: BOODTS, JULIEN FRANCOISE COLETA - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Assunto: QUÍMICA ANALÍTICA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher place: Belo Horizonte
- Date published: 1995
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Quimica Analitica
-
ABNT
SILVA, L. A. et al. Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. 1995, Anais.. Belo Horizonte: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 06 maio 2024. -
APA
Silva, L. A., Alves, V. A., Castro, S. C., Trasatti, S., & Boodts, J. F. C. (1995). Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. In Resumos. Belo Horizonte: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. -
NLM
Silva LA, Alves VA, Castro SC, Trasatti S, Boodts JFC. Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. Resumos. 1995 ;[citado 2024 maio 06 ] -
Vancouver
Silva LA, Alves VA, Castro SC, Trasatti S, Boodts JFC. Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. Resumos. 1995 ;[citado 2024 maio 06 ] - Comportamento polarografico, dc e ac da claussequinoma
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