Silican semiconductor strip detectors for X ray imaging (1998)
- Authors:
- USP affiliated authors: LICHATCHEV, VLADIMIR PETROVICH - IF ; MARTINS, MARCOS NOGUEIRA - IF
- Unidade: IF
- Assunto: FÍSICA NUCLEAR
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1998
- Source:
- Título do periódico: Programa e resumos
- Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil: programa e resumo
-
ABNT
PASCHUK, S. A. et al. Silican semiconductor strip detectors for X ray imaging. 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Paschuk, S. A., Evseev, I. G., Schelin, H. R., Tilly Junior, J. G., Jakubian, R. R., Silva, H. P., et al. (1998). Silican semiconductor strip detectors for X ray imaging. In Programa e resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Paschuk SA, Evseev IG, Schelin HR, Tilly Junior JG, Jakubian RR, Silva HP, Porto AR, Ruhle G, Gomes CL, Likhachev VP, Martins MN. Silican semiconductor strip detectors for X ray imaging. Programa e resumos. 1998 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Paschuk SA, Evseev IG, Schelin HR, Tilly Junior JG, Jakubian RR, Silva HP, Porto AR, Ruhle G, Gomes CL, Likhachev VP, Martins MN. Silican semiconductor strip detectors for X ray imaging. Programa e resumos. 1998 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Features of spectral-angular distribution of coherent x-radiation
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