Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices (2000)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1006/spmi.2000.0902
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; QUÍMICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Superlattices and Microstructures
- ISSN: 0749-6036
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 28, n. 3, p. 207-215, 2000
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
ZEBALLOS-VELASQUEZ, E L e MONCADA L, H e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices. Superlattices and Microstructures, v. 28, n. 3, p. 207-215, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902. Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Zeballos-Velasquez, E. L., Moncada L, H., & Fantini, M. C. de A. (2000). Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices. Superlattices and Microstructures, 28( 3), 207-215. doi:10.1006/spmi.2000.0902 -
NLM
Zeballos-Velasquez EL, Moncada L H, Fantini MC de A. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices [Internet]. Superlattices and Microstructures. 2000 ; 28( 3): 207-215.[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902 -
Vancouver
Zeballos-Velasquez EL, Moncada L H, Fantini MC de A. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices [Internet]. Superlattices and Microstructures. 2000 ; 28( 3): 207-215.[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902 - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
- Propriedades estruturais de filmes eletrocromicos de 'NI''O IND.X'
- Dependencia da tensao mecanica de intercalacao ionica com a estrutura em oxidos de v,'NB' e 'NI'
- Dependencia da tensao mecanica de intercalacao ionica com a estrutura em oxidos de v,'NB' e 'NI'
- Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h
- Investigacao sobre a micro-textura de fitas supercondutoras a base de bismuto
- Estudo de corrosao em ligas de 'FE'-'NI' por difracao de raios-x e microscopia optica e eletronica
- Sputtered electrochromic 'NI''O IND.X' thin films: the dependence on the oxygen flux
- Sputtered electrochromic 'NI''O IND.X' thin films: the dependence on the oxygen flux
- Sobre as propriedade estruturais de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel crescidos por rf-sputtering
Informações sobre o DOI: 10.1006/spmi.2000.0902 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
