Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors (2000)
- Authors:
- Autor USP: QUIVY, ALAIN ANDRE - IF
- Unidade: IF
- Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA; SEMICONDUTORES
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: UFSCAR
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2000
- Source:
- Título do periódico: Abstracts
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais
-
ABNT
LAMAS, T. E. e QUIVY, A. A. Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors. 2000, Anais.. São Carlos: UFSCAR, 2000. . Acesso em: 25 abr. 2024. -
APA
Lamas, T. E., & Quivy, A. A. (2000). Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors. In Abstracts. São Carlos: UFSCAR. -
NLM
Lamas TE, Quivy AA. Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 abr. 25 ] -
Vancouver
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