Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions (2001)
- Authors:
- Autor USP: SANTOS FILHO, SEBASTIAO GOMES DOS - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: SBMicro 2001: proceedings
- Conference titles: International Conference on Microelectronics and Packaging
-
ABNT
REIS, Ronaldo Willian e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 17 abr. 2024. -
APA
Reis, R. W., & Santos Filho, S. G. dos. (2001). Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro. -
NLM
Reis RW, Santos Filho SG dos. Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2024 abr. 17 ] -
Vancouver
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