XPS and XRD characterization of CuO-Ti'O IND.2'-Ce'O IND.2' catalyst system (2000)
- Authors:
- Autor USP: MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Abstracts
- Conference titles: International Symposium: Vacuum, Thin Films, Surfaces
-
ABNT
FRANCISCO, Maria Suzana Prataviera et al. XPS and XRD characterization of CuO-Ti'O IND.2'-Ce'O IND.2' catalyst system. 2000, Anais.. Boston: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2000. . Acesso em: 18 abr. 2024. -
APA
Francisco, M. S. P., Nascente, P. A. P., Mastelaro, V. R., & Florentino, A. de O. (2000). XPS and XRD characterization of CuO-Ti'O IND.2'-Ce'O IND.2' catalyst system. In Abstracts. Boston: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo. -
NLM
Francisco MSP, Nascente PAP, Mastelaro VR, Florentino A de O. XPS and XRD characterization of CuO-Ti'O IND.2'-Ce'O IND.2' catalyst system. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 abr. 18 ] -
Vancouver
Francisco MSP, Nascente PAP, Mastelaro VR, Florentino A de O. XPS and XRD characterization of CuO-Ti'O IND.2'-Ce'O IND.2' catalyst system. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 abr. 18 ] - Journal of Alloys and Compounds
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