Preparação e caracterização de uma vitrocerâmica obtida a partir do sistema ternário BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2'contendo a fase 'beta'-BBO (2002)
- Authors:
- Autor USP: MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: CRISTALIZAÇÃO; TEXTURA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Instituto de Física de São Carlos - USP
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2002
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Workshop dos Alunos de Pós-Graduação do IFSC
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ABNT
FEITOSA, Carlos Alberto Carneiro e MASTELARO, Valmor Roberto. Preparação e caracterização de uma vitrocerâmica obtida a partir do sistema ternário BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2'contendo a fase 'beta'-BBO. 2002, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2002. . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Feitosa, C. A. C., & Mastelaro, V. R. (2002). Preparação e caracterização de uma vitrocerâmica obtida a partir do sistema ternário BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2'contendo a fase 'beta'-BBO. In Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP. -
NLM
Feitosa CAC, Mastelaro VR. Preparação e caracterização de uma vitrocerâmica obtida a partir do sistema ternário BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2'contendo a fase 'beta'-BBO. Resumos. 2002 ;[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Feitosa CAC, Mastelaro VR. Preparação e caracterização de uma vitrocerâmica obtida a partir do sistema ternário BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2'contendo a fase 'beta'-BBO. Resumos. 2002 ;[citado 2024 abr. 19 ] - Caracterização estrutural de cerâmicas ferroelétricas (Pb,La)Ti'O IND.3' e através da técnica de espectroscopia de absorção de raios-X (XAS) e da técnica de espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios-X (XPS)
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- Structural characterization of the 'V IND.2''0 IND.5'/Ti'0 IND.2'system obtained by the sol-gel method
- Caracterização estrutural de cerâmicas ferroelétricas (Pb,La)Ti'O IND.3' e (Pb,Ba)(Zr,Ti)'O IND.3' por espectroscopia de absorção de raios-x (XAS) e por espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios-x (XPS)
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- Análise das caracetrísticas microestruturais de filmes finos da fase 'beta'-Ba'B IND.2''O IND.4'obtidos pelo método dos precursores polímericos
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