Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC (2003)
- Authors:
- Autor USP: OPPENHEIM, IVETTE FRIDA CYMBAUM - EP
- Unidade: EP
- Subjects: CRISTALOGRAFIA; FILMES FINOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Conference titles: Workshop sobre Textura e Relações de Orientação: deformação plástica, recristalização, crescimento de grão
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ABNT
CHINAGLIA, Eliane F. e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum. Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC. 2003, Anais.. São Paulo: IPEN, 2003. . Acesso em: 26 abr. 2024. -
APA
Chinaglia, E. F., & Oppenheim, I. F. C. (2003). Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC. In . São Paulo: IPEN. -
NLM
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC. 2003 ;[citado 2024 abr. 26 ] -
Vancouver
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC. 2003 ;[citado 2024 abr. 26 ] - Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr
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