X-ray tools to analyze nanostructures (2004)
- Autor:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Subjects: MATERIAIS; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; CRISTALOGRAFIA FÍSICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: SBPMat
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2004
- Source:
- Título do periódico: Program
- Conference titles: Encontro da SBPMat
-
ABNT
FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. X-ray tools to analyze nanostructures. 2004, Anais.. São Carlos: SBPMat, 2004. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_a.pdf. Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Fantini, M. C. de A. (2004). X-ray tools to analyze nanostructures. In Program. São Carlos: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_a.pdf -
NLM
Fantini MC de A. X-ray tools to analyze nanostructures [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 abr. 24 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_a.pdf -
Vancouver
Fantini MC de A. X-ray tools to analyze nanostructures [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 abr. 24 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_a.pdf - Synthesis, characterization and electrochromic properties of 'NiO IND.X''H IND.X' thin film prepared by a sol-gel method
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