Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo (2005)
- Authors:
- Autor USP: SCHOENMAKER, JEROEN - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FMT
- Subjects: MICROSCOPIA; MATERIAIS MAGNÉTICOS; MAGNETISMO; MICROSCOPIA ELETRÔNICA
- Language: Português
- Abstract: Para o desenvolvimento da nanociência atual há forte demanda por equipamentos capazes de caracterizar sistemas em escalas da ordem nanométrica. Este contexto impulsionou o desenvolvimento de microscópios ópticos de varredura em campo-próximo (Scanning Near-field Optical Microscope SNOM). Diferentemente da microscopia óptica tradicional, os SNOMs detectam a radiação eletromagnética evanescente e, conseqüentemente, a resolução não é limitada pelo critério de Rayleigh. No Laboratório de Materiais Magnéticos IFUSP desenvolvemos um SNOM sensível a efeitos Kerr magnetoópticos (MO-SNOM). Dessa maneira, associamos a alta resolução da técnica à alta sensibilidade dos efeitos magnetoópticos. Trata-se se uma área relativamente pouco explorada e carente de resultados sistemáticos na literatura. Utilizando o MO-SNOM, caracterizamos partículas microestruturadas de 'Co IND. 70.4 'Fe IND. 4.6' 'Si IND.15' 'B IND.10' amorfo com dimensões de 16x16x0.08 mü POT.3' e 4x4x0.08 mü POT.3'. Os resultados compreendem dezenas de imagens de susceptibilidade magnetoóptica diferencial com resolução melhor que 200 nm e curvas de histerese local. Em primeira análise, a demonstração de resultados sistemáticos ajuda a estabelecer a técnica. O comportamento magnético das partículas, estudadas sob várias condições de campo aplicado, se mostrou determinado basicamente pela anisotropia de forma. As curvas de histerese local mostraram comportamentos intrinsecamente locais emotivaram uma interessante discussão sobre os parâmetros de caracterização magnética convencionais. As medidas realizadas indicam que o efeito Kerr magnetoótico transversal em campo-próximo é similar ao campo-distante. Os resultados são fortemente sustentados por medidas de microscopia magnetoóptica de campo-distante, simulações micromagnéticas e medidas de microscopia de força magnética. Medidas complementares revelam o potencial do MO-SNOM para caracterizações ) de objetos extensos quanto a potenciais de pinning. Além disso, medidas em filmes finos de NiFe/FeMn acoplados por exchange-bias evidenciam a alta sensibilidade do MO-SNOM, estimada de 'delta'M 'APROXIMADAMENTE IGUAL' 2 x '10 POT.-12' emu
- Imprenta:
- Data da defesa: 26.04.2005
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ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen. Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo. 2005. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2005. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/. Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Schoenmaker, J. (2005). Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/ -
NLM
Schoenmaker J. Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo [Internet]. 2005 ;[citado 2024 abr. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/ -
Vancouver
Schoenmaker J. Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo [Internet]. 2005 ;[citado 2024 abr. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/
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