Ver registro no DEDALUS
Exportar registro bibliográfico

Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo (2005)

  • Authors:
  • USP affiliated authors: SCHOENMAKER, JEROEN - IF
  • USP Schools: IF
  • Sigla do Departamento: FMT
  • Subjects: MICROSCOPIA; MATERIAIS MAGNÉTICOS; MAGNETISMO; MICROSCOPIA ELETRÔNICA
  • Language: Português
  • Abstract: Para o desenvolvimento da nanociência atual há forte demanda por equipamentos capazes de caracterizar sistemas em escalas da ordem nanométrica. Este contexto impulsionou o desenvolvimento de microscópios ópticos de varredura em campo-próximo (Scanning Near-field Optical Microscope SNOM). Diferentemente da microscopia óptica tradicional, os SNOMs detectam a radiação eletromagnética evanescente e, conseqüentemente, a resolução não é limitada pelo critério de Rayleigh. No Laboratório de Materiais Magnéticos IFUSP desenvolvemos um SNOM sensível a efeitos Kerr magnetoópticos (MO-SNOM). Dessa maneira, associamos a alta resolução da técnica à alta sensibilidade dos efeitos magnetoópticos. Trata-se se uma área relativamente pouco explorada e carente de resultados sistemáticos na literatura. Utilizando o MO-SNOM, caracterizamos partículas microestruturadas de 'Co IND. 70.4 'Fe IND. 4.6' 'Si IND.15' 'B IND.10' amorfo com dimensões de 16x16x0.08 ‘mü’ POT.3' e 4x4x0.08 ‘mü’ POT.3'. Os resultados compreendem dezenas de imagens de susceptibilidade magnetoóptica diferencial com resolução melhor que 200 nm e curvas de histerese local. Em primeira análise, a demonstração de resultados sistemáticos ajuda a estabelecer a técnica. O comportamento magnético das partículas, estudadas sob várias condições de campo aplicado, se mostrou determinado basicamente pela anisotropia de forma. As curvas de histerese local mostraram comportamentos intrinsecamente locais emotivaram uma interessante discussão sobre os parâmetros de caracterização magnética convencionais. As medidas realizadas indicam que o efeito Kerr magnetoótico transversal em campo-próximo é similar ao campo-distante. Os resultados são fortemente sustentados por medidas de microscopia magnetoóptica de campo-distante, simulações micromagnéticas e medidas de microscopia de força magnética. Medidas complementares revelam o potencial do MO-SNOM para caracterizações ) de objetos extensos quanto a potenciais de pinning. Além disso, medidas em filmes finos de NiFe/FeMn acoplados por exchange-bias evidenciam a alta sensibilidade do MO-SNOM, estimada de 'delta'M 'APROXIMADAMENTE IGUAL' 2 x '10 POT.-12' emu
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 26.04.2005
  • Acesso online ao documento

    Online access or search this record in

    Exemplares físicos disponíveis nas Bibliotecas da USP
    BibliotecaCód. de barrasNúm. de chamada
    IF30500046796502.82 S365d D Ex.2
    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SCHOENMAKER, Jeroen; SANTOS, A. D. Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo. 2005.Universidade de São Paulo, São Paulo, 2005. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/ >.
    • APA

      Schoenmaker, J., & Santos, A. D. (2005). Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo. Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/
    • NLM

      Schoenmaker J, Santos AD. Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo [Internet]. 2005 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/
    • Vancouver

      Schoenmaker J, Santos AD. Desenvolvimento de um microscópio óptico e magnetoóptico de varredura em campo-próximo [Internet]. 2005 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26052009-102436/

    Últimas obras dos mesmos autores vinculados com a USP cadastradas na BDPI: