Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111) (2006)
- Authors:
- Autor USP: RODRIGUES FILHO, UBIRAJARA PEREIRA - IQSC
- Unidade: IQSC
- Subjects: QUÍMICA; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Suprema
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2006
- Source:
- Título do periódico: Abstract book
- Conference titles: International Conference on Electronic Spectroscopy and Structure - ICESS
-
ABNT
RODRIGUES FILHO, Ubirajara Pereira et al. Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111). 2006, Anais.. São Carlos: Suprema, 2006. Disponível em: http://www.lnls.br/icess10/ICESS10_%20Abstract%20Book%20Versao%20corrigida.pdf. Acesso em: 13 maio 2024. -
APA
Rodrigues Filho, U. P., Villeneuve, C. H. de, Chazalviel, J. -N., Ozanam, F., Brison, J., Douhard, B., et al. (2006). Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111). In Abstract book. São Carlos: Suprema. Recuperado de http://www.lnls.br/icess10/ICESS10_%20Abstract%20Book%20Versao%20corrigida.pdf -
NLM
Rodrigues Filho UP, Villeneuve CH de, Chazalviel J-N, Ozanam F, Brison J, Douhard B, Pireaux J-J, Houssiau L, Allongue P. Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111) [Internet]. Abstract book. 2006 ;[citado 2024 maio 13 ] Available from: http://www.lnls.br/icess10/ICESS10_%20Abstract%20Book%20Versao%20corrigida.pdf -
Vancouver
Rodrigues Filho UP, Villeneuve CH de, Chazalviel J-N, Ozanam F, Brison J, Douhard B, Pireaux J-J, Houssiau L, Allongue P. Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111) [Internet]. Abstract book. 2006 ;[citado 2024 maio 13 ] Available from: http://www.lnls.br/icess10/ICESS10_%20Abstract%20Book%20Versao%20corrigida.pdf - XPS e PIXE no estudo de cerâmicas pré-coloniais do Pantanl, MS
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