Nanoesclerometria de revestimentos de TIC e TIN obtidos por deposição reativa via triodo magnetron sputtering (2008)
- Authors:
- Autor USP: TSCHIPTSCHIN, ANDRE PAULO - EP
- Unidade: EP
- Subjects: TRATAMENTO TÉRMICO; TRATAMENTO DE SUPERFÍCIES
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Anais. São Paulo, ABM, 2008
- ISSN: 1516-392X
- Conference titles: Congresso Anual da ABM
-
ABNT
RECCO, Abel André Cândido e TSCHIPTSCHIN, André Paulo. Nanoesclerometria de revestimentos de TIC e TIN obtidos por deposição reativa via triodo magnetron sputtering. 2008, Anais.. São Paulo: ABM, 2008. . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Recco, A. A. C., & Tschiptschin, A. P. (2008). Nanoesclerometria de revestimentos de TIC e TIN obtidos por deposição reativa via triodo magnetron sputtering. In Anais. São Paulo, ABM, 2008. São Paulo: ABM. -
NLM
Recco AAC, Tschiptschin AP. Nanoesclerometria de revestimentos de TIC e TIN obtidos por deposição reativa via triodo magnetron sputtering. Anais. São Paulo, ABM, 2008. 2008 ;[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Recco AAC, Tschiptschin AP. Nanoesclerometria de revestimentos de TIC e TIN obtidos por deposição reativa via triodo magnetron sputtering. Anais. São Paulo, ABM, 2008. 2008 ;[citado 2024 abr. 19 ] - A esclerometria pendular instrumentada como técnica de estudo e avaliação do desgaste abrasivo
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