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Processos de burn-in e de garantia em sistemas coerentes sob o modelo de tempo de vida geral (2009)

  • Authors:
  • USP affiliated authors: ALVAREZ, NELFI GERTRUDIS GONZALEZ - IME
  • USP Schools: IME
  • Subjects: PESQUISA OPERACIONAL; TEORIA DA CONFIABILIDADE
  • Language: Português
  • Abstract: Neste trabalho consideramos três tópicos principais. Nos dois primeiros generalizamos alguns dos resultados clássicos da Teoria da Confiabilidade na otimização dos procedimentos de burn-in e de políticas de garantia, respectivamente, sob o modelo de tempo de vida geral, quando um sistema coerente é observado ao nível de seus componentes, e estendemos os conceitos de intensidade de falha na forma de banheira e do modelo de falha geral através da definição de processos progressivamente mensuráveis sob a pré-t-história completa dos componentes do sistema. Uma regra de parada monótona é usada na metodologia de otimização proposta. No terceiro tópico modelamos os custos de garantia descontados por reparo mínimo de um sistema coerente ao nível de seus componentes, propomos o estimador martingal do custo esperado para um período de garantia fixado e provamos as suas propriedades assintóticas mediante o Teorema do limite central para martingais
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 09.10.2009
  • Acesso online ao documento

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    BibliotecaCód. de barrasNúm. de chamada
    IME31000061165QA285.3.T G643p e.2
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    • ABNT

      GONZÁLEZ ALVAREZ, Nelfi Gertrudis; BUENO, Vanderlei da Costa. Processos de burn-in e de garantia em sistemas coerentes sob o modelo de tempo de vida geral. 2009.Universidade de São Paulo, São Paulo, 2009. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-23102009-125323/ >.
    • APA

      González Alvarez, N. G., & Bueno, V. da C. (2009). Processos de burn-in e de garantia em sistemas coerentes sob o modelo de tempo de vida geral. Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-23102009-125323/
    • NLM

      González Alvarez NG, Bueno V da C. Processos de burn-in e de garantia em sistemas coerentes sob o modelo de tempo de vida geral [Internet]. 2009 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-23102009-125323/
    • Vancouver

      González Alvarez NG, Bueno V da C. Processos de burn-in e de garantia em sistemas coerentes sob o modelo de tempo de vida geral [Internet]. 2009 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-23102009-125323/

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