Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica (2010)
- Authors:
- USP affiliated authors: LI, MAXIMO SIU - IFSC ; HERNANDES, ANTONIO CARLOS - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: VIDRO; ÉRBIO; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; ESPECTROSCOPIA; TELECOMUNICAÇÕES (APLICAÇÕES)
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física - SBF
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2010
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro de Física do Centro-Oeste
-
ABNT
OLIVEIRA, Alexandre Miranda de et al. Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. 2010, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2010. . Acesso em: 18 abr. 2024. -
APA
Oliveira, A. M. de, Carvalho, J. F., Maia, L. J. Q., Siu Li, M., & Hernandes, A. C. (2010). Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF. -
NLM
Oliveira AM de, Carvalho JF, Maia LJQ, Siu Li M, Hernandes AC. Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. Resumos. 2010 ;[citado 2024 abr. 18 ] -
Vancouver
Oliveira AM de, Carvalho JF, Maia LJQ, Siu Li M, Hernandes AC. Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. Resumos. 2010 ;[citado 2024 abr. 18 ] - Propriedades de relaxação dieletro-óptica devido a defeitos em sólidos
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