Theoretical study of the influence of vacancies in the magnetic stability of 'V'-, 'CR'-, and 'MN'-doped 'SN'O IND.2' (2013)
- Authors:
- Autor USP: ASSALI, LUCY VITORIA CREDIDIO - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/j.apsusc.2012.08.096
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: San Marcos
- Date published: 2013
- Source:
- Título do periódico: Applied Surface Science
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.267, p. 115-118, fev.2013
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: green
- Licença: other-oa
-
ABNT
BORGES, Pablo D. et al. Theoretical study of the influence of vacancies in the magnetic stability of 'V'-, 'CR'-, and 'MN'-doped 'SN'O IND.2'. Applied Surface Science, v. fe2013, p. 115-118, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.08.096. Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Borges, P. D., Scolfaro, L. M. R., Alves, H. W. L., Silva Jr., E. F. da S., & Assali, L. V. C. (2013). Theoretical study of the influence of vacancies in the magnetic stability of 'V'-, 'CR'-, and 'MN'-doped 'SN'O IND.2'. Applied Surface Science, fe2013, 115-118. doi:10.1016/j.apsusc.2012.08.096 -
NLM
Borges PD, Scolfaro LMR, Alves HWL, Silva Jr. EF da S, Assali LVC. Theoretical study of the influence of vacancies in the magnetic stability of 'V'-, 'CR'-, and 'MN'-doped 'SN'O IND.2' [Internet]. Applied Surface Science. 2013 ; fe2013 115-118.[citado 2024 abr. 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.08.096 -
Vancouver
Borges PD, Scolfaro LMR, Alves HWL, Silva Jr. EF da S, Assali LVC. Theoretical study of the influence of vacancies in the magnetic stability of 'V'-, 'CR'-, and 'MN'-doped 'SN'O IND.2' [Internet]. Applied Surface Science. 2013 ; fe2013 115-118.[citado 2024 abr. 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.08.096 - Electronic structure of erbium centers in silicon
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.apsusc.2012.08.096 (Fonte: oaDOI API)
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| Tipo | Nome | Link | |
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 | 1-s2.0-S0169433212014766-... | Direct link |
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