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Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica (2014)

  • Authors:
  • USP affiliated authors: VALENCIA, CAROLINA ELISA GUILLEN - IFSC
  • USP Schools: IFSC
  • Subjects: FILMES FINOS; PROCESSAMENTO DE IMAGENS; POLÍMEROS (MATERIAIS); MICROSCOPIA
  • Keywords: Análise de imagens; Atomic force microscopy (AFM); Filmes finos copolímeros SEBS; Image analysis; Microscopia de forca atómica (AFM); SEBS thin film polymers
  • Language: Português
  • Abstract: Neste trabalho, se pretende caracterizar a morfologia de filmes finos poliméricos por meio de técnicas de processamento de imagens, utilizando principalmente a geometria computacional e técnicas de classificação de padrões. Os objetivos principais foram quantificar as grandezas geométricas das estruturas observadas nos filmes finos e descrever padrões de supefície formados nestes filmes. Foram estudadas imagens obtidas por microscopia de força atômica (AFM) de amostras de filmes finos SEBS [poliestireno-poli(etileno-co-butileno)-poliestireno], depositados sobre um substrato de mica por técnicas de imersão. Os filmes finos SEBS são considerados de grande interesse devido à  formação de estruturas auto-organizadas na escala nanométrica. A caracterização e a obtenção da morfometria dos filmes são de relevância neste trabalho, pois contribuem para o entendimento da dinâmica de formaçâo destes padrões nas nanoestruturas estudadas. Foram analisadas diferentes morfologias, como forma de gotículas com anéis concêntricos e forma de tiras e pontos regularmente espaçados. Os resultados obtidos permitem caracterizar os padrões observados
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 04.04.2014
  • Acesso online ao documento

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    IFSC82002335Te2335
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    • ABNT

      VALENCIA, Carolina Elisa Guillen; BRUNO, Odemir Martinez. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica. 2014.Universidade de São Paulo, São Carlos, 2014. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/ >.
    • APA

      Valencia, C. E. G., & Bruno, O. M. (2014). Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica. Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/
    • NLM

      Valencia CEG, Bruno OM. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica [Internet]. 2014 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/
    • Vancouver

      Valencia CEG, Bruno OM. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica [Internet]. 2014 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/

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