In and Cd as defect traps in titanium dioxide (2017)
- Authors:
- Autor USP: MANSANO, RONALDO DOMINGUES - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1007/s10751-016-1373-7
- Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA; GAMAESPECTROMETRIA
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Hyperfine Interactions
- ISSN: 1862-6300
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 238, n.2, p. 1-9, nov 2017
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
SCHELL, Juliana et al. In and Cd as defect traps in titanium dioxide. Hyperfine Interactions, v. 238, n. 2, p. 1-9, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s10751-016-1373-7. Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Schell, J., Johnston, K., Ribeiro Junior, I. S., Lupascu, D. C., Correia, J. G. M., Carbonari, A. W., et al. (2017). In and Cd as defect traps in titanium dioxide. Hyperfine Interactions, 238( 2), 1-9. doi:10.1007/s10751-016-1373-7 -
NLM
Schell J, Johnston K, Ribeiro Junior IS, Lupascu DC, Correia JGM, Carbonari AW, Deicher M, Barbosa MB, Mansano RD. In and Cd as defect traps in titanium dioxide [Internet]. Hyperfine Interactions. 2017 ; 238( 2): 1-9.[citado 2024 abr. 24 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10751-016-1373-7 -
Vancouver
Schell J, Johnston K, Ribeiro Junior IS, Lupascu DC, Correia JGM, Carbonari AW, Deicher M, Barbosa MB, Mansano RD. In and Cd as defect traps in titanium dioxide [Internet]. Hyperfine Interactions. 2017 ; 238( 2): 1-9.[citado 2024 abr. 24 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10751-016-1373-7 - Deposition and characterization of indium-tin oxide thin films deposited by RF sputtering
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Informações sobre o DOI: 10.1007/s10751-016-1373-7 (Fonte: oaDOI API)
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