Physical and Electrochemical Characterization of Crystalline Silicon Surfaces Modified by Aluminum (2018)
- Authors:
- Autor USP: SALCEDO, WALTER JAIMES - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1002/pssa.201700543
- Subjects: IMPEDÂNCIA ELÉTRICA; ESPECTROSCOPIA; SILÍCIO; TRATAMENTO TÉRMICO
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Physica Status Solidi A Applications and Materials Science
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 215, n. 2, p. 1700543, Jan 2018
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
HUANCA, Danilo Roque e SALCEDO, Walter Jaimes. Physical and Electrochemical Characterization of Crystalline Silicon Surfaces Modified by Aluminum. Physica Status Solidi A Applications and Materials Science, v. 215, n. 2, p. 1700543, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/pssa.201700543. Acesso em: 26 abr. 2024. -
APA
Huanca, D. R., & Salcedo, W. J. (2018). Physical and Electrochemical Characterization of Crystalline Silicon Surfaces Modified by Aluminum. Physica Status Solidi A Applications and Materials Science, 215( 2), 1700543. doi:10.1002/pssa.201700543 -
NLM
Huanca DR, Salcedo WJ. Physical and Electrochemical Characterization of Crystalline Silicon Surfaces Modified by Aluminum [Internet]. Physica Status Solidi A Applications and Materials Science. 2018 ; 215( 2): 1700543.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssa.201700543 -
Vancouver
Huanca DR, Salcedo WJ. Physical and Electrochemical Characterization of Crystalline Silicon Surfaces Modified by Aluminum [Internet]. Physica Status Solidi A Applications and Materials Science. 2018 ; 215( 2): 1700543.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssa.201700543 - Advanced ESD protection solutions in CMOS/BiCMOS technologies
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Informações sobre o DOI: 10.1002/pssa.201700543 (Fonte: oaDOI API)
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