Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA (2016)
Source: Posters - Resumos. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
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ABNT
SILVA, Janderson L et al. Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdf. Acesso em: 03 jun. 2024.APA
Silva, J. L., Chinaglia, E. F., Oliveira, J. F., Curado, J. F., & Rodrigues, C. L. (2016). Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA. In Posters - Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdfNLM
Silva JL, Chinaglia EF, Oliveira JF, Curado JF, Rodrigues CL. Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA [Internet]. Posters - Resumos. 2016 ;[citado 2024 jun. 03 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdfVancouver
Silva JL, Chinaglia EF, Oliveira JF, Curado JF, Rodrigues CL. Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA [Internet]. Posters - Resumos. 2016 ;[citado 2024 jun. 03 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdf
