@inproceedings{inproceedingsafee528d,
title   = {Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores},
author = {Ramírez Fernandez, Francisco Javier},
year = {1990},
publisher = {Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar},
booktitle   = {Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais}
}