TI - Espectrômetro para uso em sistemas de ressonância magnética e sistema de ressonância magnética PY - 2016 AU - Tannus, Alberto AU - Vidoto, Edson Luiz Gea AU - Martins, Mateus José PP - Rio de Janeiro PB - República Federativa do Brasil - Ministério do Desenvolvimento, Indústria e do Comércio Exterior - Instituto Nacional da Propriedade Industrial ER -