TY - CHAP TI - Scanning electron microscopy PY - 2017 AU - Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da AU - Ferri, Fabio A. T2 - Nanocharacterization techniques DO - 10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1 UR - https://doi.org/10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1 PP - Amsterdam PB - Elsevier ER -